晶圆校准器 Wafer Aligner 晶圆校准器是一种应用于晶圆加工中的晶圆预对准装置,通过利用晶圆上的缺口(notch)将晶圆调整至预设位置,以确保晶圆的位置及方向,方便后续工艺的进行。产品广泛应用于半导体制造过程... ...
LM反射式边缘测量传感器超小体积尺寸,适用于各种安装环境。反射一体式,无需安装反射板。可自由调节L型反射板安装位置。非接触式光学扫描物料边缘:光波对环境光不敏感,测量值不受物料起伏波动影响,传感器检测范... ...
SA系列 激光位移传感器CMOS三角法测量型位移传感器。具备高精度、高稳定等特性,多种量程可选。超小体积尺寸,适用于多种安装环境。内置放大器,白色数显及面板设置,使用简易。● CMOS三角测距法,测量精度;● 超小... ...
EM系列 边缘测量传感器高精度边缘测量传感器,5.5μm分辨率,4KHz采样频率,配备质优的平行光束设计,可用于外径、宽度、节距等高精测量需求。超薄超小型尺寸,适用于各种安装环境。可设置光量接收阈值,适用于透明... ...
GS-WR03晶圆ID读取器,通过先进的光学设计、自研的核心算法以及智能化深度学习技术,实现晶圆ID高效精准读取,满足晶圆传输过程中的字符和ID识别需求,确保了晶圆生产全流程的可追溯性。GS-WR03可读取半导体行业专用... ...